無錫環(huán)威中空玻璃露點儀

我公司成功開發(fā)出半導體制冷式露點儀，積極響應(yīng)國家節(jié)能減排號召，將先進的制冷技術(shù)應(yīng)用于新型檢測儀器系統(tǒng)中，直接減少二氧化碳使用和排放量，同時使設(shè)備更加操作簡單，數(shù)據(jù)更加直觀準確。
ZDL-Ⅲ應(yīng)用先進的現(xiàn)代鍍錫及磨平工藝加工制造的雙極疊加式制冷技術(shù)，先進的半導體技術(shù)配合專門的導冷銅質(zhì)和熱交換器，使設(shè)備更加輕便，準確性更高，具有實驗室和現(xiàn)場雙重工作特性
ZDL-Ⅲ半導體制冷式露點儀具有如下優(yōu)點：
體積小巧，攜帶方便
運行費用低，是傳統(tǒng)干冰式的五十分之一
即插即用，露點溫度自由設(shè)定，無需乙醇調(diào)節(jié)
性價比高，節(jié)省檢測時間
對操作者沒有環(huán)境損害，不好造成身體上的不適。
ZDL-Ⅲ半導體制冷式露點儀技術(shù)參數(shù)：
1、試件范圍：中空玻璃(雙層玻璃)
2、試件尺寸：無特定尺寸限制                                            3、制冷方式：壓縮機及半導體制冷
4、測試指標：中空玻璃露點儀( ℃ )
5、露點測試范圍：-70℃-室溫
6、測量精度：±0.3℃
7、分辨率：0.1℃
8、不確定度±0.3%FS